Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate LaAlO3, buffer layers, TFA-MOD process, fabrication
Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Nakaoka K., Kitoh Y., Aoki Y.(y-aoki@istec.or.jp), Koyama T., Matuda J.S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, reel-to-reel process, TFA-MOD process, current distribution, fabrication
Goto T., Teranishi R., Fuji H., Kaneko A., Murata K., Aoki Y., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Matsuda J.(jmatsuda@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Matsuda J.S., Koyama S., Nakaoka K.
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Nomoto S.(s_nomoto@istec.or.jp), Sato A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, TFA-MOD process, modeling, numerical analysis, fabrication
Iijima Y., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Tokunaga Y., Imamura K., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Tokutomi H., Shoyama T.
Tokunaga Y., Izumi T., Aoki Y., Hirabayashi I., Chikumoto N., Matsuda J., Kitoh Y., Machi T.(machi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, optical imaging, defects, experimental results, fabrication
Tokunaga Y., Izumi T., Machi T., Chikumoto N.(chiku@istec.or.jp), Tajima S.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Funaki K., Yamada Y., Nigo M., Inoue D., Miyamoto N.
Saitoh T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kito Y.
Su J.H.(Jianhua.su@wright.edu), Joshi P.P., Chintamaneni V., Mukhopadhyay S.M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, heating rates, TFA-MOD process, microstructure, resistivity, temperature dependence, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, fabrication, heat treatment, critical current density, phase composition, critical caracteristics
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Puig T., Palau A., Obradors X., Pomar A., Sandiumenge F., Pinol S., Mestres N., Castano O., Coll M., Cavallaro A., Gazquez J., Gonzalez J.C., Gutierrez J., Roma N., Ricart S., Moreto J.M., Rossell M.D., Tendeloo G.V.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, IBAD process, substrate Hastelloy, critical current, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.